xps表征全称

xps表征全称为：X射线光电子能谱，是X-rayphotoelectronspectroscopy的缩写。该技术主要利用X射线激发固体表面原子中的电子，通过测量电子发射的能量和角度等信息分析表面化学成分、化学键状态及其化学环境。